|
|
|
1569 zł
|
|
cena netto: 1275,61 zł
|
|
na raty od: 32 zł
|
| |
Sklep internetowy:
● na zamówienie
Sklep w Warszawie:
● na zamówienie
Sklep w Chorzowie:
● na zamówienie
|
|
Ten produkt dostarczamy bezpłatnie kurierem (za pobraniem i przy wpłacie na konto). Zakupione równocześnie artykuły też wyślemy GRATIS !
Nowe, niższe raty (0,4% msc).
Sprawdź wartość raty i kup już dziś:
Filtr Astronomik SII 12 nm CCD 50 mm (SKU: 10216540 / 8h00e0) to wąskopasmowy filtr przeznaczony do fotografii mgławic emitujących światło w liniach siarki. Doskonale sprawdza się zarówno w miejscach o dużym zanieczyszczeniu świetlnym, jak i pod ciemnym niebem. Filtr znacząco zwiększa kontrast pomiędzy obiektami emitującymi światło w liniach SII 671,7 nm i 673,0 nm a tłem nieba.
Filtr skutecznie blokuje linie emisji sztucznego oświetlenia, takie jak lampy sodowe (Na) i rtęciowe (Hg), a także naturalne airglow oraz znaczną część rozproszonego światła Księżyca. Dzięki temu tło obrazu staje się znacznie ciemniejsze, a struktury mgławicowe wyraźniejsze.
Dzięki wąskiej szerokości połówkowej pasma (FWHM) oraz bardzo wysokiej transmisji filtr przepuszcza wyłącznie kluczowe linie emisji siarki, skutecznie blokując inne długości fal od ultrafioletu (UV) aż po podczerwień (IR).
W miejscach o niskim poziomie zanieczyszczenia świetlnego tło zdjęcia jest często ograniczane przez prąd ciemny sensora, a nie przez jasność nieba. W takich warunkach dalsze zawężanie pasma filtra nie zawsze prowadzi do ujawnienia dodatkowych szczegółów obiektu.
Filtry wąskopasmowe Astronomik umożliwiają wykonywanie wysokiej jakości zdjęć obiektów głębokiego nieba nawet w warunkach silnego zanieczyszczenia świetlnego. Filtr H-alpha jest zwykle pierwszym wyborem, pozwalając na rejestrowanie czerwonych mgławic emisyjnych nawet podczas pełni Księżyca.
Filtry OIII rozszerzają możliwości obrazowania, umożliwiając rejestrację zielonkawo-niebieskich struktur charakterystycznych dla mgławic planetarnych, obszarów powstawania gwiazd oraz pozostałości po supernowych.
Dodanie filtra SII pozwala tworzyć obrazy w palecie HSO (H-alpha, SII, OIII), znanej również jako „paleta Hubble’a”, umożliwiającej uzyskanie spektakularnych obrazów w fałszywych kolorach.
Filtry o szerokości pasma 4 nm i 6 nm są szczególnie przydatne przy fotografowaniu bardzo słabych obiektów w bogatych w gwiazdy obszarach Drogi Mlecznej. Sprawdzają się także przy kamerach o bardzo niskim prądzie ciemnym oraz podczas obserwacji z miejsc o ekstremalnym zanieczyszczeniu światłem.
Filtry 12 nm zostały zaprojektowane z myślą o typowych aparatach DSLR z sensorami CMOS oraz kamerach CCD o normalnym lub wyższym prądzie ciemnym. Są również preferowanym wyborem dla kamer z wbudowanym sensorem guidingu, ponieważ umożliwiają rejestrację większej liczby gwiazd prowadzących.
Zarówno powłoki MFR, jak i MaxFR zapewniają bardzo skuteczne blokowanie w całym zakresie spektrum od UV do IR, bardzo wysoki kontrast, minimalne rozproszenie światła, brak halo oraz punktowe odwzorowanie gwiazd.
MFR:
• 12 nm – od f/3 do f/∞
• 6 nm – od f/4 do f/∞
• 4 nm – od f/4,5 do f/15
MaxFR opracowano z myślą o bardzo jasnych układach optycznych:
• 12 nm – pełna użyteczność od f/1,7 do f/6 oraz ok. 85% maksymalnej transmisji przy f/1,4
• 6 nm – pełna użyteczność od f/2,2 do f/6 oraz ok. 90% maksymalnej transmisji przy f/2
• 4 nm – obecnie w fazie rozwoju
• gwarantowana transmisja powyżej 90% dla obu linii SII: 671,7 nm i 673,0 nm
• typowa transmisja: 96% (12 nm) oraz 93% (6 nm i 4 nm)
• średnica filtra: 50 mm
• grubość szkła: 1 mm (z wyjątkiem OWB Typ 3 i filtrów XT)
• precyzyjnie polerowane szkło optyczne wolne od naprężeń i inkluzji
• bardzo odporna powłoka odporna na wilgoć i starzenie
• powłoka Astronomik MFR
• parfokalny z innymi filtrami Astronomik
• konstrukcja dyfrakcyjnie ograniczona
• zoptymalizowane zakresy transmisji
• dostarczany w trwałym pudełku ochronnym
Filtry Astronomik są projektowane tak, aby nie pogarszać rozdzielczości ani kontrastu układu optycznego teleskopu. Każdy filtr przechodzi rygorystyczną kontrolę jakości, a wąskopasmowe filtry emisyjne są indywidualnie mierzone spektrofotometrem PerkinElmer w celu potwierdzenia zgodności z publikowaną specyfikacją.
|